赫爾納供應法國elcowa技術探測器METRON07CI

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elcowa技術探測器METRON 07 CI 主要產品：

1.  探測器

2.  金屬顆粒檢測器

elcowa技術探測器METRON 07 CI 產品型號：

l  DPM

l  METRON 07 CI

elcowa技術探測器METRON 07 CI 產品特點：

DPM 與 X 射線！由于這兩種技術不同，X 射線檢測系統通常可以獲得更好的檢測靈敏度，因為所尋找的金屬的性質對結果幾乎沒有影響。此外，DPM 對含有金屬的成品（鋁盤、金屬蓋、鋼罐等）無效。

elcowa技術探測器METRON 07 CI 產品應用：

elcowa技術探測器METRON 07 CI 在食品、藥品和化妝品中

自 80 年代以來分布，根據渦流原理（磁場技術）運行。一個檢測組件由一個回路、一個傳輸系統和一個噴射器組成。有產品就有配置，散裝、包裝、液體或糊狀產品。

檢測回路由兩個發射線圈和一個接收線圈組成，可以或多或少地檢測金屬，如鋼、不銹鋼、鐵、黃銅、青銅、銅等。取決于感應的磁場按金屬類型。

矛盾的是，elcowa技術探測器METRON 07 CI我們行業中常用的不銹鋼，例如 304 或 316 不銹鋼，是難檢測到的。出于這個原因，為了使設備具備這些檢測能力，定義了鐵、非鐵和不銹鋼閾值。

借助我們的 X 射線技術設備、我們且經的員工，我們可以為您提供控制保證，以在您的控制設備出現污染或故障時將您的產品重新投放市場。

elcowa技術探測器METRON 07 CI ELCOWA 在尋找異物或缺陷方面擁有 25 年的經驗，在米盧斯設有一個的控制中心，可幫助您快速處理此類危機。PQC 服務 – 檢測磚/瓷磚/瓷磚碎片

在食品中

elcowa技術探測器METRON 07 CI是一種檢測和檢測設備，在鍍鋁、純鋁或中性包裝中要檢查的產品而設計。它檢測可磁化金屬，如鐵、鋼，甚至弱磁性不銹鋼。

elcowa技術探測器METRON 07 CI該系統由一個高度可調的大功率磁鐵組成，在輸入端可將金屬碎片感應的磁場相乘，然后通過兩個超靈敏的表面傳感器，這些傳感器可根據要檢查的產品的確切尺寸進行調節。它適用于自動彈出或視覺上的應用，使用屏幕實時再現傳感器接收到的信號。

與傳統的金屬顆粒檢測器 (DPM) 不同，elcowa技術探測器METRON 07 CI 對產生的影響（水、鹽等）不敏感。對于高度小于 160 mm 的產品，它實現了的磁性粒子搜索靈敏度。

另一個污染源是蔬菜、水果、調味品、谷物或干果等原材料在收獲時經常受到影響。一些產品在所謂的直接在地面上進行分類、干燥、去殼和處理。

elcowa技術探測器METRON 07 CI借助我們的 X 射線技術設備、我們的員工，我們可以為您提供控制產品重新投放市場。

即使存在機械技術通過去石、比色分選機或目視去除它們，去除這種異物也并不總是可能的。

elcowa技術探測器METRON 07 CI磚、陶器或瓷磚的密度接近于玻璃，我們可以獲得符合消費者保護的良好檢測靈敏度。